Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 11
146,40 €
Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 11
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Descrizione
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A proposito del marchio
Descrizione
Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 11
Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1
- Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
- Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
- L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
- Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
- Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.
Modelli di supporto
- Apple iPhone serie 11/11P/11PM
Specifiche
- Marca: XINZHIZAO
- Modello: supporta la serie iPhone 11
- Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
- Materiale: lega di alluminio
- Peso lordo: 500 g
Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1
- Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
- Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
- Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
- Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati
Ulteriori informazioni
| Weight | 500 g |
|---|---|
| Colore | Aluminum |
| Codice a Barre | 0000000000000 |
XINZHIZAO
Confronto rapido
| Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 11 Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello B Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello A Rimuovi | Adattatore rapido per Testare smartphone con SIM Rimuovi | Teppeto riparazione resistente alle alte temperature 35*45cm Rimuovi | Set riparazione JIAFA JF-8127 15 in 1 Rimuovi | |
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| Nome | Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 11 Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello B Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello A Rimuovi | Adattatore rapido per Testare smartphone con SIM Rimuovi | Teppeto riparazione resistente alle alte temperature 35*45cm Rimuovi | Set riparazione JIAFA JF-8127 15 in 1 Rimuovi |
| Immagine |  |  |  |  |  |  |
| SKU | RCRP254707 | RCQL3DSDB | RCQL3DSDA | RCUNSIMT4 | RCTAPHT110 | RCJF8127SD |
| Valutazione | ||||||
| Prezzo | 146,40 € | 32,94 € | 32,94 € | 12,20 € | 21,96 € | 19,52 € |
| Disponibilità |
15 in stock
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7 in stock
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7 in stock
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Esaurito
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15 in stock
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| Descrizione | Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 11 | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello B | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello A | Adattatore rapido per Testare smartphone con SIM | Teppeto riparazione resistente alle alte temperature 35*45cm | Set riparazione JIAFA JF-8127 15 in 1 |
| Peso | 500 g | 100 g | 100 g | 60 g | 400 g | 150 g |
| Colore | ||||||
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