Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14
Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14
Descrizione
Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14
Dispositivo di prova a strati per scheda madre a doppia faccia XINZHIZAO: utilizzato per testare le funzioni della scheda madre prima dell'assemblaggio per ridurre i rischi di manutenzione e migliorare l'efficienza del lavoro di riparazione della serie iPhone X-14.
Dotato di posizioni dei pin progettate con precisione e tecnologia 3D avanzata, questo dispositivo garantisce che le schede madri siano collegate correttamente, fornendo i risultati dei test più accurati possibili. Il suo corpo in lega di alluminio e resiste alle alte temperature, rendendolo la scelta ideale sia per i professionisti che per gli amanti del fai da te.
Con questo strumento affidabile a portata di mano, puoi goderti la comodità e l'efficienza di testare contemporaneamente le schede madri di iPhone 2 pezzi. Ordina il tuo oggi e sperimenta la potenza e la precisione del nostro dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 XINZHIZAO!
Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1
- Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
- Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
- L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
- Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
- Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.
Modelli di supporto
- Apple iPhone 14/14 Plus/14 Pro/14 Pro Max
Specifiche
- Marca: XINZHIZAO
- Modello: supporta la serie iPhone 13
- Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
- Materiale: lega di alluminio
- Peso lordo: 500 g
Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1
- Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
- Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
- Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
- Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati
Ulteriori informazioni
| Weight | 600 g |
|---|---|
| Colore | 0 |
| Codice a Barre | 0000000000000 |
XINZHIZAO
Confronto rapido
| Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14 Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello B Rimuovi | Adesivo resistente al calore larghezza 10mm Rimuovi | Tappetino Lavorazione JIAFA S-150 Antistatico 39x27 Cm. Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello D Rimuovi | Pinzette becchi curvi in ceramica isolante e corpo acciaio Rimuovi | |
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| Nome | Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14 Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello B Rimuovi | Adesivo resistente al calore larghezza 10mm Rimuovi | Tappetino Lavorazione JIAFA S-150 Antistatico 39x27 Cm. Rimuovi | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello D Rimuovi | Pinzette becchi curvi in ceramica isolante e corpo acciaio Rimuovi |
| Immagine |  |  |  |  |  |  |
| SKU | RCRF251044 | RCQL3DSDB | RCART10MMG | RCJFP150FA | RCQL3DSDD | RCUTWC001 |
| Valutazione | ||||||
| Prezzo | 244,00 € | 32,94 € | 10,37 € | 21,96 € | 32,94 € | 14,64 € |
| Disponibilità |
15 in stock
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Esaurito
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15 in stock
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8 in stock
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Esaurito
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| Descrizione | Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 14 | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello B | Adesivo resistente al calore larghezza 10mm | Tappetino Lavorazione JIAFA S-150 Antistatico 39x27 Cm. | Giravite Alta Qualità Qianli in acciaio temperato Modello D | Pinzette becchi curvi in ceramica isolante e corpo acciaio |
| Peso | 600 g | 100 g | 50 g | 200 g | 100 g | 50 g |
| Colore | ||||||
| Aggiungi al carrello |
