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Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 13

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Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 13

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Descrizione

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 13

Dispositivo di prova a strati per scheda madre a doppia faccia XINZHIZAO: utilizzato per testare le funzioni della scheda madre prima dell'assemblaggio per ridurre i rischi di manutenzione e migliorare l'efficienza del lavoro di riparazione della serie iPhone X-13.

Dotato di posizioni dei pin progettate con precisione e tecnologia 3D avanzata, questo dispositivo garantisce che le schede madri siano collegate correttamente, fornendo i risultati dei test più accurati possibili. Il suo corpo in lega di alluminio e resiste alle alte temperature, rendendolo la scelta ideale sia per i professionisti che per gli amanti del fai da te.

Con questo strumento affidabile a portata di mano, puoi goderti la comodità e l'efficienza di testare contemporaneamente le schede madri di iPhone 2 pezzi. Ordina il tuo oggi e sperimenta la potenza e la precisione del nostro dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 XINZHIZAO!

 

Caratteristiche | Dispositivo di test a strati per scheda madre XINZHIZAO 4 in 1

  • Supporta il rilevamento simultaneo di due schede madri.
  • Posizioni precise e di alta qualità dei pin garantiscono che gli strati della scheda madre siano ben collegati.
  • L'aspetto della tecnologia 3D si aggiorna con un corpo in lega di alluminio, più resistente alle alte temperature.
  • Durezza estrema, non facile da deformare, abbastanza resistente.
  • Il suo design portatile ti consente di portarlo ovunque tu vada.

Modelli di supporto

  • Apple iPhone 13 mini/13/13 Pro/13 Pro Max

Specifiche

  • Marca: XINZHIZAO
  • Modello: supporta la serie iPhone 13
  • Nome: dispositivo di test a strati per scheda madre fronte-retro 4 in 1
  • Materiale: lega di alluminio
  • Peso lordo: 500 g

 

Passaggi di utilizzo del dispositivo di test funzionale della scheda madre 4 in 1

  • Passaggio 1: posizionare le schede di radiofrequenza sul telaio
  • Passaggio 2: posiziona la bacheca a strati sopra lo schermo della scheda madre
  • Passaggio 3: posizionare la scheda madre logica sulla bacheca di test
  • Passaggio 4: metti insieme tutti i componenti, quindi allaccia le fibbie su entrambi i lati

Confronto rapido

Dispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 13 RimuoviNastro in Schiuma biadesiva polietilenica 0.5mm x 2mm x10m RimuoviSet 5 Giraviti Refox Alta qualità Rice Series RS-2 per riparazione smartphones RimuoviBiadesivo a Super tenuta in PET Trasparente Larghezza 8mm RimuoviSet riparazione JIAFA JF-8127 15 in 1 RimuoviTappetino Lavorazione JIAFA S-150 Antistatico 39x27 Cm. Rimuovi
NomeDispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 13 RimuoviNastro in Schiuma biadesiva polietilenica 0.5mm x 2mm x10m RimuoviSet 5 Giraviti Refox Alta qualità Rice Series RS-2 per riparazione smartphones RimuoviBiadesivo a Super tenuta in PET Trasparente Larghezza 8mm RimuoviSet riparazione JIAFA JF-8127 15 in 1 RimuoviTappetino Lavorazione JIAFA S-150 Antistatico 39x27 Cm. Rimuovi
ImmagineXINZHIZAO Strumenti da Laboratorio RCIP104383Myphone Strumenti da Laboratorio RCADT052MRefox Strumenti da Laboratorio RCRF2DSETMyphone Strumenti da Laboratorio RCADSSR8MJIA-FA Strumenti da Laboratorio RCJF8127SDJIA-FA Strumenti da Laboratorio RCJFP150FA
SKURCIP104383RCADT052MRCRF2DSETRCADSSR8MRCJF8127SDRCJFP150FA
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DescrizioneDispositivo di test a strati per scheda madre 4 in 1 per iPhone serie 13Nastro in Schiuma biadesiva polietilenica 0.5mm x 2mm x10mSet 5 Giraviti Refox Alta qualità Rice Series RS-2 per riparazione smartphonesBiadesivo a Super tenuta in PET Trasparente Larghezza 8mmSet riparazione JIAFA JF-8127 15 in 1Tappetino Lavorazione JIAFA S-150 Antistatico 39x27 Cm.
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